Diskussion:In-Circuit-Test

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Redundanz

Hallo zusammen, die Artikel In-Circuit-Test und ICT-Testsystem sind meiner Meinung nach redundant und sollten zusammengeführt werden. --ReinerSpass 15:56, 4. Jun. 2010 (CEST)

Bitte nicht überall Diskussion zum Thema starten, zumal dies hier nicht der richtige Ort ist. vgl Diskussion:ICT-Testsystem#Redundanz --Cepheiden 16:38, 4. Jun. 2010 (CEST)
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