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Beschreibung
| Beschreibung |
Surface photovoltage measurements are an electro-optical method for the characterization of semiconductors. The figure schematically illustrates a surface photovoltage apparatus, including a chopped light source whose wavelength is scanned and a Kelvin probe used to measure the modulation of the surface potential. Drawn by Alison Chaiken using xfig. |
| Datum | 24. Dezember 2006 (Original-Hochladedatum) |
| Quelle | Die Autorenschaft wurde nicht in einer maschinell lesbaren Form angegeben. Es wird angenommen, dass es sich um ein eigenes Werk handelt (basierend auf den Rechteinhaber-Angaben). |
| Urheber | Die Autorenschaft wurde nicht in einer maschinell lesbaren Form angegeben. Es wird Chaiken als Autor angenommen (basierend auf den Rechteinhaber-Angaben). |
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| aktuell | 05:34, 24. Dez. 2006 | | 844 × 420 (23 KB) | wikimediacommons>Chaiken | Surface photovoltage measurements are an electro-optical method for the characterization of semiconductors. The figure schematically illustrates a surface photovoltage apparatus, including a chopped ligh |
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