Benutzer:Anselmopro/Bücher/Werkstoff- und Materialanalytik II
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Werkstoff- und Materialanalytik II
Oberflächen- & Festkörperanalytik
- Einleitung & Grundlagen
- Werkstoffprüfung
- Festkörper
- Oberflächenphysik
- Oberflächenchemie
- Grenzfläche
- Vakuum
- Rekombination (Physik)
- Monozeit
- Kontaktwinkel
- Chemische Bindungen
- Atombindung
- Metallische Bindung
- Ionische Bindung
- Van-der-Waals-Kräfte
- Oktanol-Wasser-Verteilungskoeffizient
- Wasserstoffbrückenbindung
- Oberflächenanaylse - Auger & Röngten
- Augerelektronenspektroskopie
- Laserablation
- Mittlere freie Weglänge
- Photoelektrischer Effekt
- Photoelektronenspektroskopie
- Röntgenstrahlung
- Röntgenphotoelektronenspektroskopie
- Spin-Bahn-Kopplung
- Oberflächenanaylse - Massenspektroskopie
- Massenspektrometrie
- Massenspektren-Analyse
- Sekundärionen-Massenspektrometrie
- Sekundär-Neutralteilchen-Massenspektrometrie
- Flugzeitmassenspektrometer
- Rasterelektronenmikroskop
- Sekundärelektronenmikroskop
- Ionenfallen-Massenspektrometer
- Fluoreszenzmikroskopie
- Elektrospray-Ionisation
- Chemische Ionisation
- Chemische Ionisation bei Atmosphärendruck
- Oberflächenanaylse - Lichtmikroskopie
- Lichtmikroskop
- 3D-SIM-Mikroskop
- Konfokalmikroskop
- Konfokaltechnik
- Laser-Scanning-Mikroskop
- Optische Kohärenztomografie
- Ultramikroskop
- Fluoreszenzspektroskopie
- Oberflächenanaylse - (Quantitative) Atomspektroskopie
- Lennard-Jones-Potential
- Rasterkraftmikroskop
- Rastersondenmikroskopie
- Optisches Rasternahfeldmikroskop
- Festkörperanalyse
- Röntgenemissionspektroskopie
- Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie
- Röntgenfluoreszenzanalyse
- Röntgendiffraktometer
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- Transmissionselektronenmikroskop
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie
- Rastertunnelmikroskop
- Rastertransmissionselektronenmikroskop
- Elektronenstoßionisation
- Atomabsorptionsspektrometrie
- Nukleare Reaktionsanalyse
- Raman-Spektroskopie
- Raman-Streuung
- Ultraviolettphotoelektronenspektroskopie
- Statistik
- Statistische Prozesslenkung
- Median
- Prozessfähigkeitsindex
- Standardabweichung
