Benutzer:Cepheiden/Beiträge

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Technik

AtomlagenabscheidungDatei:Crystal Clear app ktip.png, Bipolartransistor, Chemisch-mechanisches Polieren, Dünnschichttechnik, Damascene-Prozess, Dual-Damascene-ProzessDatei:Crystal Clear app ktip.png, Elektronenstrahllithografie, Equivalent oxide thicknessDatei:Crystal Clear app ktip.png, EpitaxialtransistorDatei:Crystal Clear app ktip.png, Fingerprint (Spektroskopie)Datei:Crystal Clear app ktip.png, Foucault-PrismaDatei:Crystal Clear app ktip.png, FormgedächtnislegierungDatei:Crystal Clear app ktip.png, Fotolithografie (Halbleitertechnik), Gasphasenzersetzung, Glan-Thompson-Prisma, GrabenisolationDatei:Crystal Clear app ktip.png, GridistorDatei:Crystal Clear app ktip.png, High-k+Metal-Gate-TechnikDatei:Crystal Clear app ktip.png, ImmersionslithografieDatei:Qsicon lesenswert.svg, Infrarot-Reflexions-Absorptions-SpektroskopieDatei:Crystal Clear app ktip.png, IonenplattierenDatei:Crystal Clear app ktip.png, Ionenstrahllithografie, Kritische AbmessungDatei:Crystal Clear app ktip.png, Lift-off-VerfahrenDatei:Crystal Clear app ktip.pngDatei:Qsicon lesenswert.svg, LOCOS-ProzessDatei:Crystal Clear app ktip.png, Mehrfachstrukturierung, MesatransistorDatei:Crystal Clear app ktip.png, Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistor, Metall-Isolator-Halbleiter-StrukturDatei:Crystal Clear app ktip.png, metallorganische chemische GasphasenabscheidungDatei:Crystal Clear app ktip.png, Mikroelektronik, NeutronenreflektometrieDatei:Crystal Clear app ktip.png, Nicolsches Prisma, Optical proximity correction, Overlay (Halbleitertechnik)Datei:Crystal Clear app ktip.png, Prisma (Optik) (inkl. Dispersions-, Reflexions- und Polarisationsprisma), Röntgenlithografie, ScatterometrieDatei:Crystal Clear app ktip.png, SchaltungstechnikDatei:Crystal Clear app ktip.png, Schwarzes Silicium, Silizium-Gate-TechnikDatei:Crystal Clear app ktip.png, Sputtern, Thermische Oxidation von SiliziumDatei:Crystal Clear app ktip.pngDatei:Qsicon lesenswert.svg, WaferpinzetteDatei:Crystal Clear app ktip.png

Naturwissenschaften

Anodische OxidationDatei:Crystal Clear app ktip.png, Bändermodell, Berreman-EffektDatei:Crystal Clear app ktip.png, Cauchy-GleichungDatei:Crystal Clear app ktip.png, Cotton-Mouton-EffektDatei:Crystal Clear app ktip.png, Dram (Einheit), elektrischer Widerstand, Delisle-SkalaDatei:Crystal Clear app ktip.png, Fresnel-Arago-GesetzeDatei:Crystal Clear app ktip.png, fresnelscher DoppelspiegelDatei:Crystal Clear app ktip.png, Gunn-EffektDatei:Crystal Clear app ktip.png, Imbert-Fedorov-EffektDatei:Crystal Clear app ktip.png, Halbleiter, meckesche SymboleDatei:Crystal Clear app ktip.png, Müller-MatrixDatei:Crystal Clear app ktip.png, NitrideDatei:Crystal Clear app ktip.png, PentacenDatei:Crystal Clear app ktip.png, Silicium, StörstelleDatei:Crystal Clear app ktip.png, Störstellenerschöpfung, Störstellenreserve, Voigt-EffektDatei:Crystal Clear app ktip.png

Personen

Dwight W. BerremanDatei:Crystal Clear app ktip.png, Julius BlankDatei:Crystal Clear app ktip.png, Kurt DrescherDatei:Crystal Clear app ktip.png, Victor GrinichDatei:Crystal Clear app ktip.png, Jean HoerniDatei:Crystal Clear app ktip.png, Jay LastDatei:Crystal Clear app ktip.png, Klaus LunzeDatei:Crystal Clear app ktip.png, Eugene KleinerDatei:Crystal Clear app ktip.png, Sheldon RobertsDatei:Crystal Clear app ktip.png, John WoollamDatei:Crystal Clear app ktip.png

Vorlagen

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