Diskussion:Kristallstrukturanalyse
Hallo, ich hätte ein Bild (http://commons.wikimedia.org/wiki/File:Area_Scan_224_Peak_InGaAs_TA.png) für den Artikel. Es stellt einen "Areascan" oder "Reciprocal Spacemap" (Abbild des k-Raumes) einer InAlAs-Schicht auf einem GaAs-Wafer dar. Ich habe dieses Bild im Rahmen meiner Physik-Diplomarbeit selbst angefertigt. Hab momentan allerdings wenig Zeit um den Artikel umzuschreiben, wenn also wer Zeit und Muse hat... Ansonsten versuch' ich's später mit selber schreiben. --Mlohr 16:00, 15. Dez. 2008 (CET)
Analysevolumen
- http://www.veqter.co.uk/residual-stress-measurement/x-ray-diffraction : "The X-ray Diffraction (XRD) technique is a relatively straightforward technique and the equipment is readily available, both laboratory-based and portable. XRD is a non-destructive method of measuring surface residual stresses to depths of up to 30μm by measuring a material's inter-atomic spacing. The lateral resolution of the XRD technique depends upon the XRD focusing optics and are typically of mm order." --Schwobator (Diskussion) 11:06, 16. Aug. 2013 (CEST)
- Für Schichten von 10 - 200 nm Dicke (d.h. Eindringtiefe) sollte streifender Einfall benutzt werden. (http://mmlab.dlut.edu.cn/training/gid.pdf) --Schwobator (Diskussion) 11:14, 16. Aug. 2013 (CEST)
Bild
Hi kennt ihr das Bild schon? Hier handelt sich wohl um eine XRD-Maschine. Waere schoen wenn das jemand von euch dem Artikel hinzufugen koennte.
--Gleu (Diskussion) 12:34, 13. Dez. 2015 (CET)
Inhaltliche Lücken
Mit Verlaub, aber dieser Artikel weist enorme Lücken auf: Wie sieht der Versuchsaufbau aus? Wie ist die Vorgehensweise? Wie sehen typische Versuchsergebnisse aus (ein Beispielbild wäre nicht schlecht)? Wie funktioniert die Auswertung der Daten, d. h. wie wird mathematisch vom Beugungsmuster auf die Struktur geschlossen? --Pyrrhocorax (Diskussion) 22:00, 10. Nov. 2018 (CET)
